|
Описание
Система представляет собой специальную оснастку и программное обеспечение для тестирования статических и динамических параметров высокоскоростных конвейерных АЦП с частотой оцифровки до 100 МГц, разрешением 12 бит и параллельным интерфейсом цифрового вывода. Система позволяет измерять следующие статические и динамические параметры АЦП:
• интегральная нелинейность;
• дифференциальная нелинейность;
• отношение сигнал/шум;
• динамический диапазон, свободный от паразитных составляющих;
• напряжение высокого уровня;
• напряжение низкого уровня;
• погрешность смещения.
Непосредственно на плате оснастки установлены высокостабильный генератор с частотой 1 ГГц и программируемый делитель с целью обеспечения высокой стабильности и малого джиттера тактового сигнала. Источник тактового сигнала программно можно выбирать или из внешнего модуля NI PXIe-6674T или из встроенного генератора.
Оснастка микросхемы установлена в специальный корпус, позволяющий проводить тестирование микросхемы при разных климатических условиях: от -60о до +80о С.
Для более подробного ознакомления с решением и для загрузки брошюры прокрутите страницу до раздела "Брошюры".
|
