Система тестирования чипов датчиков тока


Описание


Система позволяет  параллельно тестировать до 72 чипов. Специальное программное обеспечение совместно с  реконфигурируемой платформой PXI на базе ПЛИС и программируемым источником питания позволяет тестировать испытуемые образцы в полностью автоматизированном режиме. ПО интегрировано в среду TestStand, разработанную специально для автоматизации процесса тестирования в производстве.


Функциональные возможности


  • генерация цифровых последовательностей согласно методике тестирования;
  • измерение потребляемого тока для всех 72 чипов;
  • программное управление внешним источником питания посредством RS-232 интерфейса;
  • параллельная запись и чтение регистров всех 72 чипов;
  • программирование испытуемых образцов;
  • время тестирования 22 сек. 

 

Для более подробного ознакомления с решением и для загрузки брошюры прокрутите страницу до раздела "Брошюры".